متن كامل خبر
شکست موانع نانومتری در میکروسکوپ‌های اشعه‌ی ایکس

تاريخ خبر : 13/9/1385امتياز بده :ارسال به دوستتعدادمشاهده : 1820

     

 

شکست موانع نانومتری در میکروسکوپ‌های اشعه‌ی ایکس

 

 

ü این میکروسکوپ با ترکیب بازتاب‌های اشعه‌ی X و کیفیت بالای تصاویر، دانشمندان را قادر می‌سازد تا به مطالعه‌ی برهم‌کنش‌ها در مقیاس نانومتری بپردازند.

ü این روش خواهد توانست به درک بهتر واکنش‌های فصل مشترک سطوح مانند:‌ جذب سطحی، خوردگی و واکنش‌های کاتالیستی کمک کند.

ü شناخت واکنش‌های سطحی فصل مشترک‌ها در بسیاری از زمینه‌های علوم و فناوری از خوردگی فلزات تا انتقال آلودگی در محیط حایز اهمیت است.

 

 

محققان لابراتور «آرگونه» (Argonne) به‌همراه تیم تحقیقاتی «اشعه‌ی ایکس» (Xradia) موفق به ساخت میکروسکوپ اشعه‌ی X جدیدی شدند که قابلیت مشاهده‌ی تصاویر در مقیاس مولکولی و اندازه‌گیری‌های طولی کم‌تر از نانومتر را داراست.

به‌گزارش خبرگزاری دانشجویان ایران (ایسنا) به‌نقل از ستاد ویژه‌ی توسعه‌ی فناوری نانو، این میکروسکوپ با ترکیب بازتاب‌های اشعه‌ی X و کیفیت بالای تصاویر، دانشمندان را قادر می‌سازد تا به مطالعه‌ی برهم‌کنش‌ها در مقیاس نانومتری بپردازند. بدین‌ترتیب می‌توان دانسته‌ها و یافته‌ها را نسبت به برهم‌کنش‌ها در مقیاس نانو اصلاح کرده و از آن در درمان بیماری‌ها و محافظت در برابر محیط اطراف و حفظ امنیت استفاده کرد.

این روش خواهد توانست به درک بهتر واکنش‌های فصل مشترک سطوح مانند:‌ جذب سطحی، خوردگی و واکنش‌های کاتالیستی کمک کند به‌ویژه این روش توانایی میکروسکوپ‌های اشعه‌ی x را برای مشاهده‌ی سطوح فصل مشترک در ابعاد نانومتری به‌طور مستقیم و هم زمان افزایش می‌دهد.

این روش غیرتهاجمی می‌تواند تکمیل‌کننده‌ی میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (SPM) - که کاربرد زیادی دارد - باشد.

این روش هم‌چنین توانایی گرفتن تصویر از توپوگرافی سطح جامدات را بدون استفاده از پروب (نزدیک سطح) دارد.

محققان «آرگونه» (Argonne) و «اشعه‌ی ایکس» (Xradia) متخصص در زمینه‌ی اپتیک اشعه‌ی x و میکروسکوپ‌های اشعه‌ی x می‌باشند و با استفاده از پدیده‌ای به‌نام «کنتراست فازی» توانسته‌اند حساسیتی در ابعاد زیرنانومتری ایجاد کنند.

این کشف جدید، دیدن مستقیم قسمت‌های منفرد روی سطح جامد را با استفاده از روشی را ممکن می‌سازد که قبلاً در میکروسکوپ‌های الکترونی کاربرد داشته است.

«پائول فنتر» (Paul Fenter) فیزیکدان عضو «لابراتوار ملی ازگونه» (Argonne) می‌گوید: توانایی مشاهده‌ی تصاویر در ابعاد نانومتری به‌صورت منفرد می‌تواند قسمت مهمی از بازاریابی میکروسکوپ‌های اشعه‌ی x باشد.

بنابراین ‌گزارش، «استیو وانگ» (Steve Wang) از تیم تحقیقاتی «اشعه‌ی ایکس» (Xradia) نیز در همین زمینه می‌گوید: شناخت واکنش‌های سطحی فصل مشترک‌ها در بسیاری از زمینه‌های علوم و فناوری از خوردگی فلزات تا انتقال آلودگی در محیط حایز اهمیت است.

این روش امکان تماشای این فرایندها را به‌طور مستقیم فراهم کرده و در واقع شانس شناخت کامل آن‌ها را ایجاد می‌کند.

این روش پیشرفت قابل‌توجهی به‌سوی درک واکنش‌های سطحی جامدات می‌باشد.

مطالعه‌های آینده، اندازه‌گیری‌ها را برای مشاهده‌ی فرایندهای سطوح معدنی - که در تماس با آب می‌باشند - در زمان واقعی توسعه خواهد داد.

 

 

 

 


     منبع خبر : ايسنا

بازگشت