بهگزارش سایت ستاد ویژهی توسعهی فناوری نانو بهنقل از بهنقل از سایت «نانوورک» (NanoWerk)، اطلاعات سهبعدی بهدست آمده از این طریق منجر به بازدهی بهتر محصولات نیمهرسانا شده مزایای بسیار زیاد دیگری را نیز برای تولیدکنندگان این قبیل محصولات بهارمغان خواهد آورد.
همچنین از این روش میتوان در تشخیص بهتر و درمان مناسبتتر بیماریها کمک گرفت.
این محققان برای نخستینبار در یک روش غیرمخرب و مبتکرانه توانستند با ترکیب «میکروسکوپ پروب روبشی» (SPM) فناوریهای مافوق صوت و هولوگرافی و آشکارسازی ذرههای زیرسطحی (با ابعاد 15 الی 20 نانومتر) اطلاعات ارزشمندی را بهدست آورند که تا قبل از این، جز با روشهای مخربی از قبیل: برش زدن و تکه کردن نمونه - که موجب تغییر ترکیب و ساختار آن میشد - امکانپذیر نبود.
با این روش - که تمامی مزایای هر سه فناوری را یکجا در خود جمع کرده است - میتوان اطلاعات ارزشمندی را از الگوها و ساختارهای پنهان ماده بهویژه نواقص ساختاری نانومتری - که شناخت آن اهمیت بسیار زیادی در میکروالکترونیک دارد - بهدست آورد.
استفاده از این فناوری جدید بهعنوان ابزاری برای کنترل کیفیت در صنایع میکروالکترونیک و «سیستمهای نانوالکترومکانیکی» (NEMS) موجب افزایش بهرهوری و بهبود عملکرد محصولات تولیدی میشود.
همچنین از آن با توجه به ویژگی غیرمخرب بودنش میتوان در صنایع داروسازی هم استفاده کرده چگونگی توزیع دارو، تجمع و پاک شدن آن از نقاط مختلف بدن را بهتر بررسی کرد.
در بخش زیستپزشکی و دارورسانی نیز میتوان با استفاده از آن به پایش اتفاقهایی پرداخت که در سطح سلولی روی میدهد و درک بهتری از چگونگی توزیع زیستی داروهای جدید، برهم کنش نانوذرهها و سلولها و فرایندهای دارورسانی بهدست آورده و حتی میتوان به اثرهای ناخواستهی زیستمحیطی آنها نیز پی برد.
دانشمندان در مراحل بعدی توسعهی این فناوری سعی دارند به یکپارچهسازی سیستم، چگونگی کار با ماده، امکان روبش سریعتر همراه با ورودی بالا بپردازند.
این دانشمندان هماکنون با راهاندازی شرکتی نوپا در حوزهی فناوریهای پیشرفته - که برای توسعهی مجموعهی نانوابزارهای تصویربرداری با قابلیت محاسبه و ارزیابی سریع نواقص زیرسطح فعالیت میکند - سعی در تجاریسازی این روش کردهاند.