در حال حاضر، گروهی از مهندسان «آزمایشگاههای فوجیتسو» (Fujitsu laboratories) و «مؤسسهی تکنولوژی توکیو» (Tokyo Institute of Technology) این مشکل را بهوسیلهی ساختن سه لایه بافر - که بین لایههای نوری «تیتانات زیرکونات سرب» (PZT) و لایهی سیلیکنی قرار میگیرد - حل کردهاند. مادهی بافری شکست «مسیرهای اتمی» (Atomic Alignment) فیلم را به حداقل رسانده همچنین از هر واکنش بین لایههای نوری و زیر لایهی سیلیکونی جلوگیری میکند.
منطقهی بافری از مواد ذیل تشکیل شده است: - «اکسید استرانسیوم روتنیوم» (Strontium Ruthenium Oxide) - «اکسید سریوم» (Ceria) - لایههای «ایتریوم» (Yttrium) تقویت شده با «زیرکونیوم» (Zirconia) بر روی این منطقه، فیلمی از«تیتانات زیرکونات سرب» (PZT) قرار میگیرد. با استفاده از طول موجهای استاندارد 1550 نانومتری اشعهی مادون قرمز - که در ارتباطات نوری استفاده میشود - اتلاف انتشار «تیتانات زیرکونات سرب» (PZT) به یک «دسی بل بر سانتیمتر» کاهش مییابد. ادعا میشود که این اتلاف فقط ده درصد از میزانی است که معمولاً در «تیتانات زیرکونات سرب» (PZT) دیده میشود. این کار تحقیقاتی ما را به هدف پردازش سیگنالهای نوری و الکتریکی در یک ماده نزدیک میکند. به این ترتیب یکی از موانع اصلی در فشردهسازی سیستمهای ارتباطی (مخابراتی) و یکپارچهسازی مواد (Substantial Integration) بهعنوان چشماندازی برای آینده برداشته میشود. این فناوری جدید توسط دولت ژاپن حمایت شده و در بیست و چهارمین همایش مواد فروالکتریکی (Ferroelectric) و کاربرد آنها و سمپوزیوم جهانی کاربرد مواد فروالکتریک در نارای ژاپن (27 می 2007 میلادی) ارائه خواهد شد. |